本校研發總中心第32次研發審議委員會通過，中華民國第I324326號專利 「一種平面顯示器Mura瑕疵檢測方法」第4年續行維護案

內容：

1. 專利國別：中華民國
2. 公告日：2010年5月1日
3. 專利類型：發明
4. 專利號：I324326
5. 專利名稱：一種平面顯示器Mura瑕疵檢測方法
6. 摘要：一種平面顯示器(Flat Panel Displays)Mura瑕疵檢測方法，輸入欲檢測之液晶顯示器之原始影像後，利用二維離散餘弦轉換(2D DCT)對該原始影像進行影像轉換，得到一離散餘弦轉換係數後，選取一截止頻率，以該截止頻率為界，消除高於該截止頻率之離散餘弦轉換係數，並以二維離散餘弦反轉換(2D IDCT)將影像還原，以重建獲得一背景影像，再將該原始影像減去該背景影像，以去除掉不均勻之背景亮度分佈，獲得一餘值影像，並針對該餘值影像進行二值化處理，以將瑕疵區域分割出來，並可進一步對該瑕疵區域做量化值分析，設定量化閥值，將量化值低於該量化閥值之區域視為可接受區域，並消除該可接受區域，而保留下來之瑕疵區域即為檢出結果。